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GDS弯曲元测试系统BES在湖北理工学院中标

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GDS弯曲元测试系统BES在湖北理工学院中标！
GDS弯曲元件测试系统技术参数:
● 数据采集分辨率 (bits) = 16 bit (采用200ks/s 卡) 或 12 bit (采用1Ms/s 卡)
● 数据采集可以采用的增益范围 = 16 (from x10 to x 4000)
● 为了减少重量采用钛插入物 (这点对试样帽来说很重要)
 
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